化學(xué)成分是決定金屬材料性能和質(zhì)量的主要因素。因此，標(biāo)準(zhǔn)中對(duì)絕大多數(shù)金屬材料規(guī)定了必須保證的化學(xué)成分，有的甚至作為主要的質(zhì)量、品種指標(biāo)。隔熱管托用金屬材料的化學(xué)成分可以通過(guò)化學(xué)的、物理的多種方法來(lái)分析鑒定，目前應(yīng)用最廣的是化學(xué)分析法和光譜分析法，此外，設(shè)備簡(jiǎn)單、鑒定速度快的火花鑒定法，也是對(duì)鋼鐵成分鑒定的一種實(shí)用的簡(jiǎn)易方法。
1. 化學(xué)分析法：根據(jù)化學(xué)反應(yīng)來(lái)確定隔熱管托用金屬的組成成分，這種方法統(tǒng)稱為化學(xué)分析法。化學(xué)分析法分為定性分析和定量分析兩種。通過(guò)定性分析，可以鑒定出材料含有哪些元素，但不能確定它們的含量；定量分析，是用來(lái)準(zhǔn)確測(cè)定各種元素的含量。實(shí)際生產(chǎn)中主要采用定量分析。定量分析的方法為重量分析法和容量分析法。
2. 重量分析法：采用適當(dāng)?shù)姆蛛x手段，使金屬中被測(cè)定元素與其它成分分離，然后用稱重法來(lái)測(cè)元素含量。
3. 容量分析法：用標(biāo)準(zhǔn)溶液（已知濃度的溶液）與金屬中被測(cè)元素完全反應(yīng)，然后根據(jù)所消耗標(biāo)準(zhǔn)溶液的體積計(jì)算出被測(cè)定元素的含量。
4. 光譜分析法：各種元素在高溫、高能量的激發(fā)下都能產(chǎn)生自己特有的光譜，根據(jù)元素被激發(fā)后所產(chǎn)生的特征光譜來(lái)確定金屬的化學(xué)成分及大致含量的方法，稱光譜分析法。通常借助于電弧，電火花，激光等外界能源激發(fā)試樣，使被測(cè)元素發(fā)出特征光譜。經(jīng)分光后與化學(xué)元素光譜表對(duì)照，做出分析。
5. 火花鑒別法：主要用于隔熱管托用鋼鐵，在砂輪磨削下由于摩擦，高溫作用，各種元素、微粒氧化時(shí)產(chǎn)生的火花數(shù)量、形狀、分類、顏色等不同，來(lái)鑒別材料化學(xué)成分（組成元素）及大致含量的一種方法。
隔熱管托用金屬材料常見(jiàn)的內(nèi)部組織缺陷有：
1. 疏松：鑄鐵或鑄件在凝固過(guò)程中，由于諸晶枝之間的區(qū)域內(nèi)的熔體最后凝固而收縮以及放出氣體，隔熱管托用金屬材料導(dǎo)致產(chǎn)生許多細(xì)小孔隙和氣體而造成的不致密性。
2. 夾渣：被固態(tài)金屬基體所包圍著的雜質(zhì)相或異物顆粒。
3. 偏析：合金金屬內(nèi)各個(gè)區(qū)域化學(xué)成分的不均勻分布。
4. 脫碳：隔熱管托用金屬材料鋼及鐵基合金的材料或制件的表層內(nèi)的碳全部或部分失掉的現(xiàn)象。
另外，汽泡、裂紋、分層、白點(diǎn)等也是常見(jiàn)的內(nèi)部組織缺陷，對(duì)內(nèi)部組織（晶粒、組織）及內(nèi)部組織缺陷的檢驗(yàn)辦法常用有：
5. 宏觀檢驗(yàn)：利用肉眼或10倍以下的低倍放大鏡觀察金屬材料內(nèi)部組織及缺陷的檢驗(yàn)。常用的方法有斷口檢驗(yàn)、低倍檢驗(yàn)、塔形車削發(fā)紋檢驗(yàn)及硫印試驗(yàn)等。
主要檢驗(yàn)氣泡、夾渣、分層、裂紋晶粒粗大、白點(diǎn)、偏析、疏松等。
6. 顯微檢驗(yàn)：顯微檢驗(yàn)又叫作高倍檢驗(yàn)，是將制備好的試樣，按規(guī)定的放大倍在相顯微鏡下進(jìn)行觀察測(cè)定，以檢驗(yàn)金屬材料的組織及缺陷的檢驗(yàn)方法。一般檢驗(yàn)夾雜物、晶粒度、脫碳層深度、晶間腐蝕等。
7. 無(wú)損檢驗(yàn)：無(wú)損檢驗(yàn)有磁力探傷、螢光探傷和著色探傷。磁力探傷用于檢驗(yàn)隔熱管托用金屬材料鋼鐵等鐵磁性材料接近表面裂紋、夾雜、白點(diǎn)、折疊、縮孔、結(jié)疤等。螢光探傷和著色探傷用于無(wú)磁性材料如有色金屬、不銹鋼、耐熱合金的表面細(xì)小裂紋及松孔的檢驗(yàn)。
8. 超聲波檢驗(yàn)：又叫超聲波探傷。利用超聲波在同一均勻介質(zhì)中作直線性傳播。但在不同兩種物質(zhì)的界面上，便會(huì)出現(xiàn)部分或全部的反射。因此，當(dāng)超聲波迂到材料內(nèi)部有氣孔、裂紋、縮孔、夾雜時(shí)，則在金屬的交界面上發(fā)生反射，異質(zhì)界面愈大反射能力愈強(qiáng)，反之愈弱。這樣，隔熱管托用金屬材料內(nèi)部缺陷的部位及大小就可以通過(guò)探傷儀螢光屏的波形反映出來(lái)。常用的超聲波探傷有X光和射線探傷。
